Рус

Е. А. Беляева, В. В. Муравьев (Ижевский государственный технический университет им. М. Т. Калашникова, Ижевск, Россия) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.  

Eng

E. A. Beljaeva, V. V. Muravev (Kalashnikov Izhevsk State Technical University, Izhevsk, Russia) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.  

Рус

1. Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление производством танталовых конденсаторов с жидким электролитом посредством контроля операционного выхода годных // Вестник ИжГТУ им. М. Т. Калашникова. 2015. № 2. С. 72 – 75.
2. Трипп Т. Влияние термообработки на диэлектрические свойства анодных оксидных пленок тантала и ниобия. А. Миграция кислорода // Доклады CARTS. 2003. С. 21.
3. Ramprasad R. Phenomenological theory to model leakage currents in metal–insulator–metal capacitor systems // Phys. Stat. Sol., (b). 2003. V. 239. N 1. P. 59 – 70.
4. Поздеев-Фриман Ю. Влияние термообработки на диэлектрические свойства анодных оксидных пленок тантала и ниобия. В. Кристаллизация // Доклады CARTS. 2003. С. 29.
5. Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Беляева Е. А., Муравьев В. В. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Интеллектуальные системы в производстве. 2013. № 2. С. 140 – 143.

Eng

1. Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2015). Manage the production of tantalum capacitors with liquid electrolyte by controlling the operational outlet of suitable products. Vestnik IzhGTU im. M. T. Kalashnikova, (2), pp. 72-75.
2. Tripp T. (2003). Effect of heat treatment on the dielectric properties of anodic oxide films of tantalum and niobium. A. Oxygen migration. Doklady CARTS, p. 21.
3. Ramprasad R. (2003). Phenomenological theory to model leakage currents in metal–insulator–metal capacitor systems. Phys. Stat. Sol., (b), 239(1), pp. 59-70. doi: 10.1002/pssb.200303239
4. Pozdeev-Friman Iu. (2003). Effect of heat treatment on the dielectric properties of anodic oxide films of tantalum and niobium. В. Crystallization. Doklady CARTS, p. 29.
5. Kuznetsova V. A., Kuznetsov P. L., Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2013). Studying the effect on the performance of the materials quality of tantalum oxide-semiconductor chip capacitors. Intellektual'nye sistemy v proizvodstve, (2), pp. 140-143.

Рус

Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).

Стоимость статьи 350 руб. (в том числе НДС 18%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке.

После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи.

Для заказа статьи заполните форму:

Форма заказа статьи Фамилия, имя, отчество * Ваш E-mail * Почтовый адрес с индексом * Контактный телефон * Дополнительно для юридических лиц: Название организации ИНН КПП Юридический адрес с индексом Комментарий к заявке Type the characters you see in the picture below

.

Eng

This article  is available in electronic format (PDF).

The cost of a single article is 350 rubles. (including VAT 18%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank.

After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail.

To order articles please fill out the form below:

Purchase digital version of a single article Your name * Your e-mail * Your post address with index * Your phone number: * Comments to your order Type the characters you see in the picture below

.