10.14489/td.2014.09.pp.049-054

2014, 09 сентябрь (September)

DOI: 10.14489/td.2014.09.pp.049-054

Краснов М. И., Огурцов А. А.
АППАРАТУРА ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ ПЛИС
(с. 49-54)

Аннотация. Представлен обзор современной аппаратуры, позволяющей осуществлять функциональный контроль ПЛИС. Рассмотрены основные проблемы, возникающие при использовании аппаратуры для функционального контроля ПЛИС. Приведен сравнительный анализ основных параметров аппаратуры, предлагаемой на рынке. Приведены решения по оптимизации функционального контро-ля ПЛИС, а также предложено проводить функциональный контроль ПЛИС на специализированных стендах.

Ключевые слова: автоматизированное тестовое оборудование (АТЕ), программируемые логические инте-гральные схемы, функциональный контроль ПЛИС, аппаратура для функционального контроля.

Krasnov M.I., Ogurtsov A.A.
EQUIPMENTS FOR FPGA FUNCTIONAL TEST
(pp. 49-54)

Abstract. In the article we provided an overview of the modern equipment, allowing to carrying out FPGA functional test. Authors describe the main characteristics of the equipment allowing to carry out functional test for modern FPGA. The article considers the world’s major manu-facturers of automatic test equipments (ATE) available in the Russian market, authors cite the advantages and drawbacks of this equipment as applied to the FPGA functional test. The article authors proposing solutions for optimization the FPGA functional test, also authors offering to conduct FPGA functional test on the specialized stands, implementing testing using algorithms for functional FPGA test. According to the authors, application of specialized functional control stands will improve the efficiency detection of functional failures, as well as reduce the cost and time spent on the functional FPGA test.

Keywords: automatic test equipments (АТЕ), field-programmable gate array (FPGA), functional control FPGA, equipments for functional test.

+ - Информация об авторах (About the Authors) Click to collapse

Рус

М. И. Краснов, А. А. Огурцов (ОАО «Российские космические системы», Москва) E-mail Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.

Eng

M. I. Krasnov, A. A. Ogurtsov (JSC “Russian Space Systems”, Russia, Moscow) E-mail Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.

+ - Библиографический список (References) Click to collapse

Рус

1. Teradayne Announcer the 500th Customer for the INTEGRA J750 Test System // EE News. Taipei, Taiwan: Evalution Engineering online 2000.
2. Система контрольно-измерительная для функ-ционального контроля БИС и ИМС тестер Formula-2k. М., 2005.
3. Yonct A. Eracar, Teresa Lopes. Misssion Assur-ance through, Test Program Set Analysis, 2010.
4. Challapalli S., Chu M., Kuo A. et al. Teradyne’s Aurora Project / Massachusetts Institute of Technology (MIT). Boston MA, 2000.
5. Wang Laung-Terng, Wu Cheng-Wen, Wen Xiaoqing. VLSI Test Principles and Architectures, 2007.
6. Hardware Specifications J750, 2009.
7. Wang Laung-Terng. Stroud Charles E. Touba, Nur. System-on-Chip. Test. Architectures, 2008.
8. Описание типа средства измерений. Системы контрольно-измерительные Тестеры СБИС FORMULA HF3. Свидетельство № 48039 об утверждении типа средств измерений. URL: www.form.ru/rar/doc/FHF3_TypeDesc_v2.pdf

Eng

1. Teradayne Announcer the 500th Customer for the INTEGRA J750 Test System. (2000). EE News. Taipei, Tai-wan: Evalution Engineering online 2000.
2. Control measuring system for functional control LSI and IC tester Formula-2k. (2005). Moscow.
3. Yonct A. Eracar, Teresa Lopes. (2010). Mission As-surance through, Test Program Set Analysis.
4. Challapalli S., Chu M., Kuo A. et al. (2000). Tera-dyne’s Aurora Project. Massachusetts Institute of Technolo-gy (MIT). Boston MA.
5. Wang Laung-Terng, Wu Cheng-Wen, Wen Xiaoqing. (2007). VLSI Test Principles and Architectures.
6. Hardware Specifications J750. (2009).
7. Wang Laung-Terng. Stroud Charles E. Touba. (2008). Nur. System-on-Chip. Test. Architectures.
8. Description type of measurement means. System in-strumentation VLSI Testers FORMULA HF3. Certificate No. 48039 approval of measuring instruments type. Available at: www.form.ru/rar/doc/FHF3_TypeDesc_v2.pdf.

+ - Заказать электронную версию статьи (Purchase digital version of a single article) Click to collapse

Рус

Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).

Стоимость статьи 250 руб. (в том числе НДС 18%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке.

После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи.

Для заказа статьи заполните форму:

Форма заказа статьи

Eng

This article is available in electronic format (PDF).

The cost of a single article is 250 rubles. (including VAT 18%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank.

After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail.

To order articles please fill out the form below: