|
DOI: 10.14489/td.2018.03.pp.058-063
Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И.
КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ТАНТАЛОВЫХ ЧИП-КОНДЕНСАТОРОВ С ПОМОЩЬЮ ИСПЫТАНИЙ ИМПУЛЬСНЫМ ТОКОМ
(c. 58-63)
Аннотация. Предложен метод испытаний танталовых конденсаторов импульсным током как способ повышения их надежности в цепях с низким сопротивлением. В основу метода легли известные методики испытаний, регламентированные международными стандартами. Особое внимание уделено параметрам испытательного стенда. В частности, сопротивление испытательного стенда ограничено в пределах, при которых изменения индуктивности цепи и параметров испытываемых конденсаторов оказывает минимальное влияние на условия испытаний. Индуктивность испытательного стенда выдерживается на таком уровне, при котором переходные процессы при испытаниях носят апериодический характер. Проведены испытания опытной партии танталовых чип-конденсаторов. Все конденсаторы, прошедшие испытания импульсным током, были признаны годными при длительных испытаниях на безотказность. Предложенная методика может быть включена в стандарты и ТУ на конденсаторы. Испытания импульсным током должны входить в комплекс технологических мероприятий по контролю качества танталовых чип-конденсаторов.
Ключевые слова: танталовый конденсатор, испытания импульсным током, надежность, воспроизводимость испытаний, переходные процессы.
Barsukov V. K., Sibgatullin B. I.
QUALITY CONTROL OF TANTALUM CHIP CAPACITORS BY USING SURGE CURRENT TEST
(pp. 58-63)
Abstract. The surge current method for testing tantalum capacitors as a way to increase their reliability in circuits with low resistance is proposed. The method is based on well-known test methods, regulated by international standards. Particular attention is paid to the parameters of the test bench. In particular, the resistance of the test bench is limited to the range in which changes of the inductance of the circuit and the parameters of the test capacitors have a minimal effect on the test conditions. The inductance of the test bench is maintained at a level at which the transients during the tests are aperiodic. Tests of the pilot batch of tantalum chip capacitors have been carried out. All capacitors that passed the surge current test were found to be suitable for longterm fail-safe tests. The proposed methodology can be included in the standards and specifications for capacitors. Surge current tests should be part of a set of technological measures to monitor the quality of tantalum capacitors.
Keywords: tantalum capacitor, surge current tests, reliability, reproducibility of tests, transient processes.
В. К. Барсуков, Б. И. Сибгатуллин (ФГБОУ ВО «ИжГТУ им. М. Т. Калашникова», г. Ижевск, Россия) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
,
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
V. K. Barsukov, B. I. Sibgatullin (Kalashnikov Izhevsk State Technical University, Izhevsk, Russia) E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
,
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
1. Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Контроль качества электролитических танталовых конденсаторов с использованием стресстеста // Приборы и методы измерений. 2015. № 1. С. 76 – 80.
2. Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Метод ускоренных испытаний сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Контроль. Диагностика. 2016. № 7. С. 57 – 60.
3. Беляева Е. А., Муравьев В. В. Влияние пористости и режимов оксидирования анода на качество танталовых конденсаторов с жидким электролитом // Контроль. Диагностика. 2016. № 3. С. 62 – 70.
4. Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Прогнозирование сохраняемости танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов по временной зависимости // Вестник ИжГТУ им. М. Т. Калашникова. 2016. № 4. С. 69 – 72.
5. Беляева Е. А., Муравьев В. В. Управление производством танталовых конденсаторов с жидким электролитом посредством контроля операционного выхода годных // Вестник ИжГТУ им. М. Т. Калашникова. 2015. № 2. С. 72 – 75.
6. Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Влияние конструктивных характеристик анода на эксплуатационные параметры оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов // Вестник ИжГТУ им. М. Т. Калашникова. 2014. № 4. С. 105 – 107.
7. Кузнецова В. А., Муравьев В. В. Влияние качества корпуса оксидно-полупроводниковых танталовых чип-конденсаторов на эксплуатационные параметры // Интеллектуальные системы в производстве. 2014. № 2. С. 112 – 115.
8. Беляева Е. А., Муравьев В. В. Влияние переменной синусоидальной составляющей пульсирующего напряжения при оксидировании объемно-пористых анодов танталовых конденсаторов на электрические параметры // Интеллектуальные системы в производстве. 2014. № 2. С. 96 – 102.
9. Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Муравьев В. В. Исследование надежности танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов на основе экспериментальных данных // Вестник ИжГТУ им. М. Т. Калашникова. 2013. № 3. С. 88 – 91.
10. Кузнецова В. А., Кузнецов П. Л., Беляева Е. А., Муравьев В. В. Исследование влияния на эксплуатационные характеристики качества материалов танталовых оксидно-полупроводниковых чип-конденсаторов // Интеллектуальные системы в производстве. 2013. № 2. С. 140 – 143.
11. Mattingly D. Increasing reliability of SMD tantalum capacitors in low impedance applications // AVX technical paper, 1995.
12. Mogilevsky B. S., Surge G. Current Failure in Solid Electrolyte Tantalum Capacitors // IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. 1986. V. 9. N 4. Р. 475 – 479.
13. Teverovsky A. Effect of compressive stresses on performance and reliability of chip tantalum capacitors // CARTS Europe. 29 okt. – 1 nov. 2007. Barcelona, Spain, 2007. Р. 175 – 190.
14. Сибгатуллин Б. И. Effect of Circuit Resistance and Inductance on Surge Current Testing of Tantalum Capacitors with Different Capacitance // International Forum “Instrumentation Engineering, Electronics and Telecommunications”. 25 – 27 nov. 2015. Р. 163 – 170.
15. Барсуков В. К., Сибгатуллин Б. И. Стенд для испытаний танталовых конденсаторов импульсным током // Интеллектуальные системы в производстве. 2015. № 3. С. 63 – 66.
1. Kuznetsov P. L., Murav'ev V. V. (2015). Quality inspection of electrolytic tantalum capacitors using a stress test. Pribory i metody izmerenii, (1), pp. 76-80. [in Russian language]
2. Kuznetsova V. A., Murav'ev V. V. (2016). Method of accelerated tests for persistence of tantalum chip capacitor. Kontrol'. Diagnostika, (7), pp. 57-60. doi: 10.14489/td.2016.07.pp.057-060 [in Russian language]
3. Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2016). The effect of the anode porosity and anodizing methods modification on the wet tantalum capacitors quality. Kontrol'. Diagnostika, (3), pp. 62 – 70. doi: 10.14489/td.2016.03.pp.062-070 [in Russian language]
4. Kuznetsova V. A., Murav'ev V. V. (2016). Forecasting the retentivity of tantalum oxide semiconductor chip capacitors in time dependence. Vestnik IzhGTU im. M. T. Kalashnikova, (4), pp. 69-72. [in Russian language]
5. Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2015). Controlling the production of tantalum capacitors with liquid electrolyte by monitoring the operational output of suitable product. Vestnik IzhGTU im. M. T. Kalashnikova, (2), pp. 72-75. [in Russian language].
6. Kuznetsova V. A., Murav'ev V. V. (2014). Influence of the design characteristics of the anode on the operational parameters of oxide-semiconductor tantalum chip capacitors. Vestnik IzhGTU im. M. T. Kalashnikova, (4), pp. 105-107. [in Russian language].
7. Kuznetsova V. A., Murav'ev V. V. (2014). Effect of the quality of the housing of oxide-semiconductor tantalum chip capacitors on the operational parameters. Intellektual'nye sistemy v proizvodstve, (2), pp. 112-115. [in Russian language]
8. Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2014). Influence of the variable sinusoidal component of the pulsating voltage upon oxidation of volumetric porous anodes of tantalum capacitors on electrical parameters. Intellektual'nye sistemy v proizvodstve, (2), pp. 96-102. [in Russian language]
9. Kuznetsova V. A., Kuznetsov P. L., Murav'ev V. V. (2013). Study of the reliability of tantalum oxide semiconductor chip capacitors on the basis of experimental data. Vestnik IzhGTU im. M. T. Kalashnikova, (3), pp. 88-91. [in Russian language]
10. Kuznetsova V. A., Kuznetsov P. L., Beliaeva E. A., Murav'ev V. V. (2013). Study of the influence of the materials of tantalum oxide semiconductor chip capacitors on the performance characteristics. Intellektual'nye sistemy v proizvodstve, (2), pp. 140-143. [in Russian language]
11. Mattingly D. (1995). Increasing reliability of SMD tantalum capacitors in low impedance applications. AVX technical paper.
12. Mogilevsky B. S., Surge G. (1986). Current failure in solid electrolyte tantalum capacitors. IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, 9(4), pp. 475-479.
13. Teverovsky A. (2007). Effect of compressive stresses on performance and reliability of chip tantalum capacitors. CARTS Europe. (pp. 175-190). 29 okt. – 1 nov. 2007. Barcelona, Spain.
14. Sibgatullin B. I. (2015). Effect of circuit resistance and inductance on surge current testing of tantalum capacitors with different capacitance. International Forum “Instrumentation Engineering, Electronics and Telecommunications”. (pp. 163-170). 25 – 27 nov. 2015.
15. Barsukov V. K., Sibgatullin B. I. (2015). Test bench for tantalum capacitors with pulse current. Intellektual'nye sistemy v proizvodstve, (3), pp. 63-66. [in Russian language].
Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).
Стоимость статьи 350 руб. (в том числе НДС 18%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке.
После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи.
Для заказа скопируйте doi статьи:
10.14489/td.2018.03.pp.058-063
и заполните форму
Отправляя форму вы даете согласие на обработку персональных данных.
.
This article is available in electronic format (PDF).
The cost of a single article is 350 rubles. (including VAT 18%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank.
After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail.
To order articles please copy the article doi:
10.14489/td.2018.03.pp.058-063
and fill out the form
.
|
Текущий номер
Разработка концепции и создание сайта - ООО «Издательский дом «СПЕКТР»