Журнал Российского общества по неразрушающему контролю и технической диагностике
The journal of the Russian society for non-destructive testing and technical diagnostic
 
| Русский Русский | English English |
 
Главная Архив номеров
19 | 09 | 2026
2020, 01 январь (January)

DOI: 10.14489/td.2020.01.pp.050-059

Матвеев В. И., Клейзер П. Е.
ОБОРУДОВАНИЕ И ПРИБОРЫ НА ВЫСТАВКАХ «TESTING & CONTROL» И «NDT RUSSIA – 2019»
(c. 50-59)

Аннотация.  Представлен краткий информационный обзор 16-й Международной выставки испытательного и контрольно-измерительного оборудования «Testing & Control» и 19-й Международной выставки оборудования для неразрушающего контроля «NDT Russia», которые прошли с 22 по 24 октября 2019 г. в МВЦ «Крокус Экспо» в г. Москве. Российские и зарубежные производители и поставщики продемонстрировали широкий спектр оборудования в следующих областях: испытательное оборудование, измерительное и метрологическое оборудование, оборудование для производственного контроля, машинное зрение, оборудование для неразрушающего контроля и технической диагностики, оборудование для лабораторного контроля, системы диагностики и мониторинга. Одновременно с выставками прошла Всероссийская научная конференция «Измерения. Испытания. Контроль», посвященная методам, средствам, метрологическому обеспечению исследований, испытаниям и эксплуатации изделий в различных отраслях промышленности.

Ключевые слова:  испытательное оборудование, измерительное оборудование, метрологическое оборудование, оборудование для производственного контроля, машинное зрение, неразрушающий контроль, техническая диагностика, системы диагностики, мониторинг.

 

Matveev V. I., Kleyzer P. E.
EQUIPMENT AND DEVICES AT THE EXHIBITIONS "TESTING & CONTROL" AND "NDT RUSSIA – 2019"
(pp. 50-59)

Abstract. A brief information review of the 16th International Exhibition of Testing and Measuring Equipment «Testing & Control» and the 19th International Exhibition of Non-Destructive Testing Equipment «NDT Russia» which took place from October 22 – 24, 2019 at the Crocus Expo IEC in Moscow is presented. Russian and foreign manufacturers and suppliers demonstrated a wide range of equipment in the following areas: testing equipment, measuring and metrological equipment, equipment for production control, machine vision, equipment for non-destructive testing and technical diagnostics, equipment for laboratory control, diagnostic and monitoring systems. The All-Russian Scientific Conference “Measurements. Tests Control” was held simultaneously with the exhibitions. It was devoted to methods, tools, metrological support of research, testing and operation of products in various industries.

Keywords: test equipment, measuring equipment, metrological equipment, equipment for production control, machine vision, non-destructive testing, technical diagnostics, diagnostic systems, monitoring.

Рус

В. И. Матвеев (ЗАО «НИИИН МНПО «Спектр», Москва, Россия) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
П. Е. Клейзер (ООО «Издательский дом «Спектр», Москва, Россия) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.

 

Eng

V. I. Matveev (JCS RII MSIA “Spectrum”, Moscow, Russia) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.
P. E. Kleyzer (LLC “Publishing house “Spektr”, Moscow, Russia) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.

 

Рус

 

Eng

 

Рус

Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).

DOI: 10.14489/td.2020.01.pp.050-059

Скопируйте DOI статьи и перейдите по ссылке https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-kontrol-diagnostika

В комментарии к заказу обязательно укажите DOI статьи.

.

 

Eng

This article  is available in electronic format (PDF).

DOI: 10.14489/td.2020.01.pp.050-059

Copy the article DOI and follow the link https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-kontrol-diagnostika

Please specify the article DOI in the order comments.

.

 

 
Поиск