Журнал Российского общества по неразрушающему контролю и технической диагностике
The journal of the Russian society for non-destructive testing and technical diagnostic
 
| Русский Русский | English English |
 
Главная Архив номеров
22 | 12 | 2024
2024, 07 июль (July)

DOI: 10.14489/td.2024.07.pp.031-037

Пацан А. В., Шабурова А. В.
РАЗРАБОТКА МОДЕЛИ ПЛАНИРОВАНИЯ РАБОТ ПО МЕТРОЛОГИЧЕСКОМУ ОБЕСПЕЧЕНИЮ ПРЕДПРИЯТИЯ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЛИЧЕСТВА НЕОБХОДИМЫХ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
(c. 31-37)

Аннотация. Рассматривается влияние оптико-электронных средств измерений на качество выпускаемой продукции. Подчеркивается необходимость определения точного количества этих средств измерений на предприятии для поддержания высокого качества продукции. Предложена модель планирования работ метрологического обеспечения предприятия с использованием уравнений Колмогорова и графов состояния системы на основе этапов жизненного цикла оптико-электронного средства измерения. Эта модель позволяет вывести формулу определения количества оптико-электронных средств измерений в организации, на основании которой можно спланировать ресурсы для поддержания стабильного высокого уровня работоспособности метрологической службы.

Ключевые слова:  оптико-электронный прибор, метрологическое обеспечение предприятия, средство измерения, марковский процесс, дифференциальные уравнения Колмогорова, метрологическая служба.

 

Patsan A. V., Shaburova A. V.
DEVELOPMENT OF MODEL FOR PLANNING WORK ON METROLOGICAL SUPPORT OF AN ENTERPRISE TO DETERMINE THE NUMBER OF NECESSARY OPTICAL-ELECTRONIC MEASURING INSTRUMENTS
(pp. 31-37)

Abstract. The need to maintain the quality of products of the domestic optical-electronic instrument industry by maintaining the quality of metrological support for enterprises producing optical-electronic devices, determining the required number of optical-electronic measuring instruments at the enterprise will allow maintaining high quality of products by preventing shortage of optical-electronic measuring instruments and the occurrence of downtime. The use of foreign analogues of optical-electronic measuring instruments is associated with a long process of testing for type approval and registration in the state register of measuring instruments. The duration of the testing process is associated with testing according to foreign quality standards, which do not always coincide with domestic ones, resulting in long work to harmonize standards. The purpose of the article is to maintain the efficiency of resource planning for the life cycle of optical-electronic measuring instruments by managing the metrological support process based on functional and mathematical modeling of its state, taking into account all stages of the life cycle.

Keywords: optical-electronic instrumentation, metrological support, enterprise, specialist, measuring instrument.

Рус

А. В. Пацан, А. В. Шабурова (Сибирский государственный университет геосистем и технологий, Новосибирск, Россия) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра.  

Eng

A. V. Patsan, A. V. Shaburova (Siberian State University of Geosystems and Technologies, Novosibirsk, Russia) 

Рус

1. Конюхов А. Г. Метрологическое обеспечение в приборостроении. Аспекты управления. М.: Изд-во стандартов, 1990. 208 с.
2. Грузевич К. Ю. Оптико-электронные приборы ночного видения. М.: Физматлит, 2014. 276 с.
3. Вентцель Е. С., Овчарова Л. А. Теория случайных процессов и ее инженерные приложения. М.: Наука, 1991. 384 с.
4. Венецкий И. Г., Кильдишев Г. С. Теория вероятностей и математическая статистика: учеб. пособие для студентов экономических специальностей вузов. Изд. 3-е, перераб. и доп. М.: Статистика, 1975. 264 c.
5. Пивнев П. П., Тарасов С. П., Кириченко И. А., Волощенко А. П. Конструирование и технология производства приборов и систем: учеб. пособие. Ростов н/Д: ЮФУ, 2019. 143 с.
6. Богачев В. И., Крылов Н. В., Рекнер М., Шапошников С. В. Уравнения Фоккера‒Планка‒Кол-могорова. М.: Институт компьютерных исследований, 2013. 591 с.

Eng

1. Konyuhov A. G. (1990). Metrological support in in-strument making. Management aspects. Moscow: Izdatel'stvo standartov. [in Russian language]
2. Gruzevich K. Yu. (2014). Optical-electronic night vision devices. Fizmatlit. [in Russian language]
3. Venttsel' E. S., Ovcharova L. A. (1991). Theory of random processes and its engineering applications. Moscow: Nauka. [in Russian language]
4. Venetskiy I. G., Kil'dishev G. S. (1975). Probability theory and mathematical statistics: a textbook for students of economic specialties at universities. 3rd ed. Moscow: Statistika. [in Russian language]
5. Pivnev P. P. Tarasov S. P., Kirichenko I. A., Vo-loshchenko A. P. (2019). Design and production technology of devices and systems: textbook. Rostov-on-Don: YuFU. [in Russian language]
6. Bogachev V. I., Krylov N. V., Rekner M., Shaposh-nikov S. V. (2013). Fokker–Planck–Kolmogorov equations. Moscow: Institut komp'yuternyh issledovaniy. [in Russian language]

Рус

Статью можно приобрести в электронном виде (PDF формат).

Стоимость статьи 500 руб. (в том числе НДС 20%). После оформления заказа, в течение нескольких дней, на указанный вами e-mail придут счет и квитанция для оплаты в банке.

После поступления денег на счет издательства, вам будет выслан электронный вариант статьи.

Для заказа скопируйте doi статьи:

10.14489/td.2024.07.pp.031-037

и заполните  форму 

Отправляя форму вы даете согласие на обработку персональных данных.

.

 

Eng

This article  is available in electronic format (PDF).

The cost of a single article is 500 rubles. (including VAT 20%). After you place an order within a few days, you will receive following documents to your specified e-mail: account on payment and receipt to pay in the bank.

After depositing your payment on our bank account we send you file of the article by e-mail.

To order articles please copy the article doi:

10.14489/td.2024.07.pp.031-037

and fill out the  form  

 

.

 

 
Поиск
На сайте?
Сейчас на сайте находятся:
 174 гостей на сайте
Опросы
Понравился Вам сайт журнала?
 
Rambler's Top100 Яндекс цитирования