| 2024, 07 июль (July) |
|
DOI: 10.14489/td.2024.07.pp.031-037 Пацан А. В., Шабурова А. В. Аннотация. Рассматривается влияние оптико-электронных средств измерений на качество выпускаемой продукции. Подчеркивается необходимость определения точного количества этих средств измерений на предприятии для поддержания высокого качества продукции. Предложена модель планирования работ метрологического обеспечения предприятия с использованием уравнений Колмогорова и графов состояния системы на основе этапов жизненного цикла оптико-электронного средства измерения. Эта модель позволяет вывести формулу определения количества оптико-электронных средств измерений в организации, на основании которой можно спланировать ресурсы для поддержания стабильного высокого уровня работоспособности метрологической службы. Ключевые слова: оптико-электронный прибор, метрологическое обеспечение предприятия, средство измерения, марковский процесс, дифференциальные уравнения Колмогорова, метрологическая служба.
Patsan A. V., Shaburova A. V. Abstract. The need to maintain the quality of products of the domestic optical-electronic instrument industry by maintaining the quality of metrological support for enterprises producing optical-electronic devices, determining the required number of optical-electronic measuring instruments at the enterprise will allow maintaining high quality of products by preventing shortage of optical-electronic measuring instruments and the occurrence of downtime. The use of foreign analogues of optical-electronic measuring instruments is associated with a long process of testing for type approval and registration in the state register of measuring instruments. The duration of the testing process is associated with testing according to foreign quality standards, which do not always coincide with domestic ones, resulting in long work to harmonize standards. The purpose of the article is to maintain the efficiency of resource planning for the life cycle of optical-electronic measuring instruments by managing the metrological support process based on functional and mathematical modeling of its state, taking into account all stages of the life cycle. Keywords: optical-electronic instrumentation, metrological support, enterprise, specialist, measuring instrument.
РусА. В. Пацан, А. В. Шабурова (Сибирский государственный университет геосистем и технологий, Новосибирск, Россия) E-mail: Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра. EngA. V. Patsan, A. V. Shaburova (Siberian State University of Geosystems and Technologies, Novosibirsk, Russia)
Рус1. Конюхов А. Г. Метрологическое обеспечение в приборостроении. Аспекты управления. М.: Изд-во стандартов, 1990. 208 с. Eng1. Konyuhov A. G. (1990). Metrological support in in-strument making. Management aspects. Moscow: Izdatel'stvo standartov. [in Russian language]
РусСтатью можно приобрести в электронном виде (PDF формат). DOI: 10.14489/td.2024.07.pp.031-037 Скопируйте DOI статьи и перейдите по ссылке https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-kontrol-diagnostika В комментарии к заказу обязательно укажите DOI статьи. .
EngThis article is available in electronic format (PDF). DOI: 10.14489/td.2024.07.pp.031-037 Copy the article DOI and follow the link https://id-spektr.ru/product/pokupka-elektronnoy-stati-iz-zhurnala-kontrol-diagnostika Please specify the article DOI in the order comments. .
|
Архив номеров
Разработка концепции и создание сайта - ООО «Издательский дом «СПЕКТР»