Журнал Российского общества по неразрушающему контролю и технической диагностике
The journal of the Russian society for non-destructive testing and technical diagnostic
 
| Русский Русский | English English |
 
Главная Архив новостей
25 | 05 | 2022
Выставка ЭКСПО КОНТРОЛЬ 2010 «ПРИБОРЫ И СРЕДСТВА КОНТРОЛЯ, ИЗМЕРЕНИЙ И ИСПЫТАНИЙ» Печать

ec2010_468x60

ЭКСПО КОНТРОЛЬ 2010 «ПРИБОРЫ И СРЕДСТВА КОНТРОЛЯ, ИЗМЕРЕНИЙ И ИСПЫТАНИЙ»

VIT EXPO 2010 «ПРОМЫШЛЕННАЯ ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ, МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ И БЕСКОНТАКТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ»

Пресс-релиз

С 27 по 29 апреля 2010 г. в Центре Международной Торговли, г. Москва состоятся специализированные выставки научного оборудования и технологий:

Выставка ЭКСПО КОНТРОЛЬ 2010 «ПРИБОРЫ И СРЕДСТВА КОНТРОЛЯ, ИЗМЕРЕНИЙ И ИСПЫТАНИЙ» посвящена важнейшим и неотъемлемым этапам любого технологического процесса в промышленном производстве – контролю, измерениям и испытаниям.

ТЕМАТИКА ВЫСТАВКИ
Контрольно-измерительная аппаратура
Измерительные датчики и сенсоры
Автоматизированные и компьютерные системы  измерений и испытаний
Радио- и электроизмерительные средства
Приборы и технологии для контроля и испытаний
Неразрушающий и химико-аналитический контроль
Испытательные и тестовые системы специализированного назначения
Тензометрия и весоизмерительная техника

Выставка VIT EXPO 2010 «ПРОМЫШЛЕННАЯ ОБРАБОТКА ИЗОБРАЖЕНИЙ, МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ И БЕСКОНТАКТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ» посвящена перспективному инновационному направлению в мире компьютерных технологий – машинному зрению, скоростной видеосъемке и промышленной обработке изображений, а также сопряженным технологиям бесконтактных измерений.

ТЕМАТИКА ВЫСТАВКИ
Системы распознавания и анализа изображений
Программные и аппаратные технологии обработки изображений
Высокоскоростные и промышленные видеокамеры
Компоненты систем машинного зрения
3D сканирование и 3D моделирование
Бесконтактные измерения (лазерные, оптолазерные, оптоэлектронные)
Спектрометрия и микроскопия
Оптический и визуально-измерительный контроль, промышленная эндоскопия

НАУЧНАЯ ПРОГРАММА
Важной частью выставок станет научная программа, включающая открытые тематические семинары ФГУП ЦАГИ, ФГУП ЦИАМ им. Баранова, ФГУП ВИАМ и др. ведущих научных организаций России. Программа семинаров
http://www.rual-interex.ru/mimt/seminars/program/

ОБЛАСТЬ ИССЛЕДОВАНИЙ - ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА И МЕТРОЛОГИЯ

Крупнейший в мире центр авиационной науки ФГУП ЦАГИ, Отделение измерительной техники и метрологии впервые на выставке Экспо Контроль 2010 представит вниманию специалистов свои уникальные разработки.

В России в ЦАГИ была создана научно-техническая база тензометрии, обеспечившая основные виды измерений на экспериментальных установках ЦАГИ и ряде организаций авиационной и машиностроительных отраслей. Разработаны имеющие мировой приоритет методы и средства оптико-физических исследований, обеспечивающие качественно новые возможности испытаний. Созданы специальные эталоны метрологического обеспечения измерений.
Высококвалифицированные ученые и инженеры отделения измерительной техники и метрологии ФГУП ЦАГИ проведут ряд тематических семинаров.
Важной частью выставок станет научная программа, включающая открытые тематические семинары. Докладчиками выступят Высококвалифицированные ученые и инженеры из ФГУП ЦАГИ, ФГУП ЦИАМ им. Баранова, ФГУП ВИАМ.

КРАТКИЙ АНОНС ЭКСПОНИРУЕМЫХ СИСТЕМ И ТЕХНОЛОГИЙ

На выставке будет представлен широкий спектр оборудования ведущих производителей: ACRA Control Ltd., AIDCO Test Systems, AIM GmbH, Alditech, Basler Vision Technologies, BOISSET & CIE BCSA, Bruel, Bruker, Cambridge Vibration Maintenance Services Ltd., CDTest, CI-Systems, Dongling Vibration, Dynisco, Elastocon, EM Test, Emco-Test, Fastvideo, Flir Systems, Fluke, GCR Eurodraw SPA, Gotech, Gottferd, Heiden Power, Heim Systems GmbH, Hildebrand, Hottinger Baldwin Messtechnik GmbH, IDS Imaging Development Systems GmbH, Imperx Inc., Insize, IXMotion, Jenoptik, jProbe, Konica Minolta Sensing Inc., Kraus Messtechnik GmbH (KMT), Kyowa Electronic Instruments, Labthink, Lansmont Corporation, LDS Test and Measurement, Lumenera, Magnaflux, Magtrol SA, MECOS, Meiji, Mesdan, Messtechnik, Moog, Nanovea, National Instruments, Oldam, Olympus, Omron, OROS SA, Pacific Power Source, Power Test Inc., Premier, Prodera, Redlake, Rheotek, Riftec, S.E.R.E.M.E., Schwarzbeck Mess-Elektronik, Sensopart, Shimadzu, Shinyei, Spektra GmbH, Struers A/S, Stuska Dynamometers, Time Group Inc., Toyoseiki, Vocord, Walter+Bai AG, X-Rite, Zwick/Roell и др.
Подробнее об участниках выставки на сайте:
Http://www.rual-interex.ru 

ВАЖНАЯ ИНФОРМАЦИЯ ПО ПОСЕЩЕНИЮ:
Даты работы выставки: 27 – 29 апреля 2010 г.
Адрес: Москва, Краснопресненская наб., 12, Центр Международной Торговли (ЦМТ)
Вход на выставки и семинары бесплатный
Анонсы, семинары и др. на сайте выставки:
Http://www.rual-interex.ru 
Организационный комитет: Тел.: +7 (495) 772-38-45, E-mail:
Данный адрес e-mail защищен от спам-ботов, Вам необходимо включить Javascript для его просмотра. Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

 
Поиск
На сайте?
Сейчас на сайте находятся:
 174 гостей на сайте
Опросы
Понравился Вам сайт журнала?
 
Баннер
Баннер
Баннер
Конкурс дефектоскописта
Rambler's Top100 Яндекс цитирования